独特优势:
◆高分辨率,采样点达400x300
◆高动态范围,达500μm
◆具有直接测量高发散光束的能力,数值孔径达0.5(额外软件)
◆消色差,用于不同波长无需额外校准
◆对准方便,无需精确繁冗的校准步骤
◆KALEO软件(额外订购),可提供完整的光学特征:像差,PSF,MTF,有效焦距等
应用方向:
n 激光束测试分析
n 自适应光学
n 光学表面测量
n 激光光学测试
n 等离子体&气体密度测量
n 人工晶体质量控制
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详细信息 法国PHASICS公司专注于研究高分辨率波前传感器,其产品基于一种独特的专利技术——四波横向剪切干涉法(4-Wave Lateral Shearing Interferometry)。该技术克服了传统哈特曼的限制,具有超高分辨率、高灵敏度和大动态范围等特性,为客户实现全方位测量、分析和成像提供了有利的解决方案。这种创新技术给激光工程师、透镜制造商和细胞生物学家带来了福音。
独特优势: ◆高分辨率,采样点达400x300 ◆高动态范围,达500μm ◆具有直接测量高发散光束的能力,数值孔径达0.5(额外软件) ◆消色差,用于不同波长无需额外校准 ◆对准方便,无需精确繁冗的校准步骤 ◆KALEO软件(额外订购),可提供完整的光学特征:像差,PSF,MTF,有效焦距等
应用方向: n 激光束测试分析 n 自适应光学 n 光学表面测量 n 激光光学测试 n 等离子体&气体密度测量 n 人工晶体质量控制 |