PHASICS高精度波前传感器_光学测试测量设备_精密光学_供应信息

法国PHASICS公司专注于研究高分辨率波前传感器，其产品基于一种独特的专利技术——四波横向剪切干涉法（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。该技术克服了传统哈特曼的限制，具有超高分辨率、高灵敏度和大动态范围等特性，为客户实现全方位测量、分析和成像提供了有利的解决方案。这种创新技术给激光工程师、透镜制造商和细胞生物学家带来了福音。

独特优势：

◆高分辨率，采样点达400ｘ300

◆高动态范围，达500μm

◆具有直接测量高发散光束的能力，数值孔径达0.5(额外软件)

◆消色差，用于不同波长无需额外校准

◆对准方便，无需精确繁冗的校准步骤

◆KALEO软件(额外订购)，可提供完整的光学特征：像差，PSF，MTF，有效焦距等

应用方向：

n 激光束测试分析

n 自适应光学

n 光学表面测量

n 激光光学测试

n 等离子体&气体密度测量

n 人工晶体质量控制

价格	面议
发货	上海
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