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解锁硅基光电子技术的潜力 | 硅基光电子PDK综述:组成、现状、建立指南以及在EDA流程中的集成

2023-12-19 16:027580

来源:陈昇祐 (Terence Chen),深圳逍遙科技有限公司



随着硅基光电子技术的成熟,综合的PDK集成到自动化设计流程中,对于实现广泛应用至关重要。本文综述了硅基光电子PDK的关键组成部分,并提出了制作PDK的检查清单。我们讨论了PDK开放可用性、建模和标准化方面的最新进展。我们还检视了OptoCompiler以及PIC Studio等集成工具流程,以加速端到端光电子集成芯片设计。采用严格的PDK制作实践,并将PDK集成到EDA工具中,是发挥硅基光电子巨大潜力的关键。

摘要

Keywords:  硅基光电子; PDK; EDA; 标准化


引言


硅基光电子通过利用成熟的CMOS工艺在硅衬底上集成光电子器件,实现了高性能、低成本的光电子集成芯片(PIC) [1]。但是,发挥其巨大潜力需要稳健的PDK,它封装了工厂详情、设计规则、紧凑模型和光电子集成芯片设计所需的其他信息[2]。本文综述了PDK組成、开发现状,并提出了制作硅基光电子PDK的综合检查清单。还讨论了将PDK集成到自动化设计流程中的方法,比如PIC Studio等工具实现了从概念到器件的设计。


PDK组成


  1. 器件库:无源/有源光电子器件的紧凑模型和特性。

  2. 设计规则:间距、曲率半径等版图约束,以确保制造能力。

  3. 光电子器件模型:波导损耗、色散的模型用于光电子链路模拟。

  4. 工艺信息:层厚度、宽度、流程等详情以描述工厂信息。

  5. 关键工艺参数:CD偏差、过程变化以建模制造效应。

  6. 紧凑模型:S参数、IV曲线、可靠性数据用于光电子链路级仿真。

  7. 层信息:层类型、密度规则、GDSII映射用于胶片制版。 



PDK建立的检查清单


PDK建立检查清单涵盖五个领域[2]:

  1. 器件与设计信息:

        · 光电子器件规格和器件模型

       · 版图设计规则和引导准则

       · DRC/LVS物理验证规则集

 2. 工艺信息:

       · 层厚度、宽度、电阻

       · 工艺流程、器件截面图

       · 设计模板和参数化单元

 3. 关键工艺参数:

       · CD偏差、工艺变化

       · 考虑制造能力的全限幅模型

 4. 数据与模型:

       · S参数、测量数据

       · 可靠性数据、电流极限值

       · 测量与模型的相关性

 5. 层信息:

       · GDSII层映射

       · 层类型、密度规则

       · 文本标签和阻挡层 


遵循此类综合清单覆盖光学、版图、工艺和器件参数可以加速光电子集成芯片设计。


PDK开放可用性与标准化的进展


近年来,在硅基光电子PDK的开放可用和早期标准化工作方面取得了重大进展:

  • IMEC、AIM Photonics、Leti、Tower、GlobalFoundries等公布了其代工厂专用的PDK。但是,不同代工厂的PDK之间的互操作性 (interoperability)目前仍然有限[4]

  • 在建模方面取得进展,使用神经网络、先进数值法和过程变化的统计仿真等技术[5,6]。

  • IMEC、AIM Photonics、Leti、Tower、GlobalFoundries等工厂提供了多项目晶圆(MPW)穿梭运行。这使得测试PDK器件和工艺可移植性成为可能。

  • Synopsys、Luceda、逍遥科技等公司的商业EDA解决方案不断涌现。这些解决方案提供端到端的设计自动化,集成不同的工厂PDK。



  • IEEE P1838工作组提出的早期行业标准化工作,目的是定义标准的PDK格式。这有望实现多工厂设计流程[7]。

  • 在将光电子元件与电子元件集成方面取得进展,例如使用三维一体化技术[8]。


尽管硅基光电子PDK生态系统已经成熟很多但在标准采用、光电子器件建模准确性和跨工厂互操作性方面仍存在局限[2]。但是到目前为止取得的进展让人乐观地相信稳健和标准化的PDK平台能够实现以发挥硅基光电子的巨大潜力。


将PDK集成到自动化设计流程中


为了利用好PDK的优势将其集成到自动化设计流程中至关重要。EDA工具例如Synopsys OptoCompiler和逍遥科技的PIC Studio实现了端到端的光电子IC设计流程[2,9]集成了PDK:

  1. PDK导入:导入器件模型、版图规则、层信息等PDK组成。

  2. 原理图设计:设计师使用PDK器件库构建光电子链路原理图。

  3. 版图生成:工具自动生成遵循PDK设计规则的可制造版图。

  4. 验证:执行DRC、LVS以确保正确性和遵循工厂规则。

  5. 仿真:利用PDK紧凑模型对从版图提取的网表进行仿真。

  6. 数据准备:生成包含PDK层信息可提交工厂的GDSII版图。

 


逍遥科技的PIC Studio提供了一个集成套件:

  • pLogic:用于光电子链路设计的原理图创建编辑器。

  • pSim:光电子链路仿真工具,支持实验结果导入、误码率以及眼图仿真。

  • Advanced SDL: 从光电子链路原理图自动生成版图。

  • PhotoCAD:率先采用Python3的商业级代码驱动版图工具,支持波导自动布线、自定义波导弯曲算法、层次化设计、版图后仿真。

  • 与多种Spice仿真器的灵活协同仿真。 


 


这种自动流程实现了遵循PDK设计规则的正确构建版图生成集成的协同仿真也方便了全面光电集成协同设计分析与仿真。总体而言采用严格的PDK创建实践并将其集成到EDA工具是解锁硅基光电子巨大潜力的关键

结论和展望


硅基光电子PDK和设计自动化工具生态系统在近年来取得了显著进展但是在标准成熟度、光学建模准确度和工厂互操作性方面仍存在局限。本综述总结了PDK发展的现状、关键组成部分、拟议的创建指南以及在设计自动化工具中的集成方法实现综合而互操作的PDK集成到设计流程有望加速硅基光电子技术的进步。工厂、设计师和EDA供应商的持续协作将有助于解决现有的PDK生态系统挑战。严格采用PDK创建最佳实践并将其集成到高级设计自动化工具可以帮助在不久的将来解锁硅基光电子的巨大颠覆潜力


References


[1] Thomson, D. (2016). Roadmap on silicon photonics. Journal of Optics, 18(7), 073003.
[2] Chrostowski, L., & Hochberg, M. (2015). Silicon photonics design: from devices to systems. Cambridge University Press.
[3] Chen, T.S.-Y. (2023). Silicon Photonics Process Design Kit (PDK) Creation Checklist. Latitude Design Automaion.
[4] Lim, A. E. J., et al. (2014). Review of silicon photonics foundry efforts. IEEE Journal of Selected Topics in Quantum Electronics, 20(4), 405-416.
[5] Wang, B., (2017). Modeling of Silicon Photonic Devices for Optical Interconnect Transceiver Circuit Design. 10.5772/intechopen.68272.
[6] Wang, J., et al. (2016). Subwavelength grating enabled on-chip ultra-compact optical true time delay line. Scientific reports 6, 30235.
[7] IEEE P1838 Working Group: https://grouper.ieee.org/groups/3Dtest/
[8] Han, J.H. et al. (2019). Wafer-scale monolithic 3D silicon photonics. ACS photonics, 7(1), 119-127.

[9] Latitude Design Automation. PIC Studio Suite. https://latitudeda.com/solution/product



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文章转载自微信公众号:北京光博会订阅号

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